9030900001 |
高温老化测试座 351pcs |
9030900001 |
高压探针 |
9030900001 |
集成电路测试机专用零件(挡针) |
9030900001 |
集成电路测试机专用零件(底座) |
9030900001 |
集成电路测试机专用电路板 |
9030900001 |
集成电路测试仪用治具 |
9030900001 |
集成电路测试仪器电源通道母板,无品牌 |
9030900001 |
集成电路检测系统电路板,无品牌 |
9030900001 |
集成电路检测系统电源子板,无品牌 |
9030900001 |
集成电路检测系统接口电路板,无品牌 |
9030900001 |
附件包(晶片测试仪用/包含螺丝连接器等) |
9030900001 |
附件包 |
9030900001 |
铝制金属框配件 |
9030900001 |
速度调节器 |
9030900001 |
连接模块(测试机零配件) |
9030900001 |
进料气室 |
9030900001 |
输出梭(测试机配件) |
9030900001 |
输入梭(测试机配件) |
9030900001 |
转盘上定位槽旧NX16 |
9030900001 |
转换治具用校准部件 |
9030900001 |
起信号连接功能的电路板,无品牌 |
9030900001 |
记忆卡测试机用测试平台,配合记忆卡测试机对集成电路及集成块进行电性检测,TSE |
9030900001 |
记忆卡测试机用测试平台,配合记忆卡测试机对集成电路及集成块进行电性检测,ADVANTEST |
9030900001 |
记忆卡测试机用测试平台,配合记忆卡测试机对记忆卡芯片进行电性检测,ADVANTEST |
9030900001 |
记忆卡/探针测试系统零件 |
9030900001 |
芯片老化测试机零件(消耗品) |
9030900001 |
芯片老化测试机备件 |
9030900001 |
芯片测试针架盖 |
9030900001 |
芯片测试针架 |
9030900001 |
芯片测试连接器 |
9030900001 |
芯片测试板(芯片测试机备件) |
9030900001 |
芯片测试机备件 |
9030900001 |
芯片测试承载台 |
9030900001 |
芯片测试仪附件 |
9030900001 |
芯片测试仪配件 |
9030900001 |
芯片供电电路板,无品牌 |
9030900001 |
老化测试板 |
9030900001 |
老化测试插槽 |
9030900001 |
老化测试周期维护诊断板(旧,1997) |
9030900001 |
老化测试周期维护板校准板(旧,1997) |
9030900001 |
红外线信号侦测器 |
9030900001 |
系统诊断板(ADVANTEST牌) |
9030900001 |
系统校准模块 |
9030900001 |
系统开关控制装置(测试机零配件) |
9030900001 |
系统开关控制装置 |
9030900001 |
盖板 |
9030900001 |
电路板测试机用治具 |
9030900001 |
电路板,通过控制信号切换开关,提供不同直流或交流测试 |
9030900001 |
电路板(电路板测试仪零件,适用于ITA产品) |
9030900001 |
电路板(电路板测试仪零件,适用ITA产品) |
9030900001 |
电路板 |
9030900001 |
电流放大器 |
9030900001 |
电流接触测试片 8pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 70pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 58pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 56pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 42pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 40pcs |
9030900001 |
电流接触测试片 30pcs |
9030900001 |
电流探针 |
9030900001 |
电压探针 |
9030900001 |
电压信号产生板(ADVANTEST牌) |
9030900001 |
状态显示幕 |
9030900001 |
物镜转换器基座 |
9030900001 |
混合信号测试机附件 |
9030900001 |
液晶电阻测试设备用标准片的修 |
9030900001 |
液晶电阻测试设备用标准片 |
9030900001 |
液晶显示器 |
9030900001 |
测试站点控制器(测试机零配件) |
9030900001 |
测试片固定装置(测试分选机备用部件) |
9030900001 |
测试炉老化系统电子扩充器(旧,1997) |
9030900001 |
测试炉老化系统用老化板连接器 |
9030900001 |
测试模组,用于晶片测试仪 |
9030900001 |
测试板(测试机零配件) |
9030900001 |
测试板(测试机主机零配件) |
9030900001 |
测试板(旧) |
9030900001 |
测试板单元,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),PANASONIC |
9030900001 |
测试板单元,提供相匹配的测试用接口平台(适用PCT711),SHIKINO |
9030900001 |
测试板单元 |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),SHIKINO |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),PWB |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),LEAD |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),ATE |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),ADVANTEST |
9030900001 |
测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用PCT711),SHIKINO |
9030900001 |
测试板(修理费),提供相匹配的测试用接口平台(适用PCT711),SHIKINO |
9030900001 |
测试板 |
9030900001 |
测试机零配件 |
9030900001 |
测试机零件/测试板 |
9030900001 |
测试机配件-电源板 |
9030900001 |
测试机配件-主板 |
9030900001 |
测试机配件 |
9030900001 |
测试机盖板 |
9030900001 |
测试机用基座 |
9030900001 |
测试机座 |
9030900001 |
测试机备用部件 |
9030900001 |
测试机备品 |
9030900001 |
测试插座 2sets |
9030900001 |
测试插座 1set |
9030900001 |
测试接口单元 |
9030900001 |
测试探头 |
9030900001 |
测试扩展模块 |
9030900001 |
测试座(测试机配件) |
9030900001 |
测试座 1set |
9030900001 |
测试底座 |
9030900001 |
测试头(测试分选机备用部件) |
9030900001 |
测试双头针 |
9030900001 |
测试卡半成品,检测半导体晶片 |
9030900001 |
测试卡半成品 |
9030900001 |
测试卡,检测半导体晶片,鸿测 |
9030900001 |
测试卡 8pcs |
9030900001 |
测试卡 1PCS |
9030900001 |
测试卡 15PCS |
9030900001 |
测试卡 |
9030900001 |
测试单头针 |
9030900001 |
测试分选机备用部件 |
9030900001 |
测试分选机备用套件 |
9030900001 |
测试仪转接板 |
9030900001 |
测试仪备件 |
9030900001 |
横梁安装座 |
9030900001 |
模组(电路板测试仪用,,适用ITA产品) |
9030900001 |
模拟信号发生器前端接口电路板,无品牌 |
9030900001 |
模拟信号发生器,用来产生模拟信号,无品牌 |
9030900001 |
模拟信号产生模块,无品牌 |
9030900001 |
模块(电路板测试仪用,,适用ITA产品) |
9030900001 |
检测半导体晶片的仪器零件 |
9030900001 |
检测半导体晶片及器件的仪器零件 |
9030900001 |
检测半导体晶片及仪器的零件 |
9030900001 |
检测半导体器件的仪器零件 |
9030900001 |
校验棒 |
9030900001 |
晶片测试版 |
9030900001 |
晶片测试板 |
9030900001 |
晶片测试仪用真空发生器 |
9030900001 |
晶片测试仪用测试套件 |
9030900001 |
晶片测试仪用插槽 |
9030900001 |
晶片测试仪用吸嘴装置 |
9030900001 |
晶体检测仪用电缆连接器C |
9030900001 |
时钟信号产生板(旧) |
9030900001 |
时钟信号产生板(ADVANTEST牌) |
9030900001 |
旧逻辑板;作为测试信号生成的功能零部件,专用于装配在半导体器件用测试机中(适用T6575);ADVANTEST |
9030900001 |
旧测试板,提供相匹配的测试用接口平台(适用T6575),PANASONIC |
9030900001 |
新NX216SOT23定位凹槽 |
9030900001 |
散热模组装置 |
9030900001 |
支架 |
9030900001 |
控制器 |
9030900001 |
控制信号传输电路板,无品牌 |
9030900001 |
接口电路板,用于监测机器状态,控制机器的开和关,无品 |
9030900001 |
探针测试系统零件 |
9030900001 |
探针卡(旧) |
9030900001 |
探针卡(修理费) |
9030900001 |
探针卡架 |
9030900001 |
探针卡 |
9030900001 |
探针 |
9030900001 |
导体晶片测试仪用逻辑测试电路板 |
9030900001 |
存储器测试设备用真空吸头 |
9030900001 |
基座(半导体生产设备用零件,3210-304035-12) |
9030900001 |
固定件(衬套) |
9030900001 |
固定件(卡箍) |
9030900001 |
固定件 |
9030900001 |
四层测试线路板 |
9030900001 |
四十层测试线路板 |
9030900001 |
四十四层测试线路板 |
9030900001 |
四十二层测试线路板 |
9030900001 |
吸盘连接件/半导体测试仪用 |
9030900001 |
吸盘测试针架盖 |
9030900001 |
吸头(测试机零配件) |
9030900001 |
同步带轮 |
9030900001 |
同步信号测试电路板 |
9030900001 |
双层测试线路板 |
9030900001 |
单元模块,用于晶片测试仪 |
9030900001 |
半导体芯片老化测试设备诊断板(旧,1999) |
9030900001 |
半导体芯片老化测试板(旧,2007) |
9030900001 |
半导体芯片老化测试板(旧,2006) |
9030900001 |
半导体芯片老化测试板 |
9030900001 |
半导体芯片测试设备高保真测试板(旧,2006&2007) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备高保真测试板(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备高保真测试板(旧,2003) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备高保真测试板(旧,1999) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备转换治具(旧,2005) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备转换治具(旧,1999) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备诊断板(旧,2002) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备诊断板(旧,2000) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备诊断板(旧,2005) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备诊断板(旧,2003) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备特殊夹具(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备测试板(旧,2007) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备治具(旧,2007) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备治具(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备校正板(旧,2005) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备校准夹具(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备数字串口适配器(旧,2007) |
9030900001 |
半导体芯片测试设备接口板更换母板(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片分类机转换治具(旧,2008) |
9030900001 |
半导体芯片分类机转换治具(旧,2007) |
9030900001 |
半导体芯片分类机转换治具(旧,2005) |
9030900001 |
半导体芯片分类机转换治具(旧,2004) |
9030900001 |
半导体芯片分类机转换治具(旧,2003) |
9030900001 |
半导体芯片分类机治具(旧,2008) |
9030900001 |
半导体自动测试设备零件/电路板 |
9030900001 |
半导体硅片制造-搬运设备零部件 |
9030900001 |
半导体真空检测设备顶盖 |
9030900001 |
半导体真空检测设备面板 |
9030900001 |
半导体真空检测设备环 |
9030900001 |
半导体真空检测设备支柱 |
9030900001 |
半导体真空检测设备支架 |
9030900001 |
半导体真空检测设备支撑板 |
9030900001 |
半导体真空检测设备排气筒外罩 |
9030900001 |
半导体真空检测设备手柄 |
9030900001 |
半导体真空检测设备底座 |
9030900001 |
半导体真空检测设备安装盒 |
9030900001 |
半导体真空检测设备安装板 |
9030900001 |
半导体真空检测设备圆环 |
9030900001 |
半导体真空检测设备后壁 |
9030900001 |
半导体真空检测设备可转背盖 |
9030900001 |
半导体真空检测设备三角架 |
9030900001 |
半导体测试设备零件-测试插座 1PC |
9030900001 |
半导体测试设备零件 |
9030900001 |
半导体测试板单元 |
9030900001 |
半导体晶片及器件检测仪零件 |
9030900001 |
半导体封装检测机器的送料装置 |
9030900001 |
半导体参数测试用测试电路板 |
9030900001 |
半导体参数测试仪用测试电路板 |
9030900001 |
半导体制造设备零部件 |
9030900001 |
千分表 |
9030900001 |
十层测试线路板 |
9030900001 |
十四层测试线路板 |
9030900001 |
十六层测试线路板 |
9030900001 |
十八层测试线路板 |
9030900001 |
十二层测试线路板 |
9030900001 |
加强型测试接口 |
9030900001 |
前端接口电路板,无品牌 |
9030900001 |
六层测试线路板 |
9030900001 |
八层测试线路板 |
9030900001 |
五十层测试线路板 |
9030900001 |
二十层测试线路板 |
9030900001 |
二十四层测试线路板 |
9030900001 |
二十六层测试线路板 |
9030900001 |
二十八层测试线路板 |
9030900001 |
二十二层测试线路板 |
9030900001 |
三十层测试线路板 |
9030900001 |
三十层或以上测试线路板 |
9030900001 |
三十四层测试线路板 |
9030900001 |
三十六层测试线路板 |
9030900001 |
三十八层测试线路板 |
9030900001 |
三十二层测试线路板 |
9030900001 |
ULTRMFLEX直流测试通道板 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高频信号测试板(电路板);产生400MHz的中高频模拟信号,将被测试器件降频到20MHz进行测量(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高频信号测试板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX高频信号测试板 1pc |
9030900001 |
ULTRAFLEX高频信号测试板 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高速数字信号测试板(电路板);可产生最高1G赫兹的数字信号,对半导体及集成电路进行测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高速数字信号测试板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX高速存储器数字通道板(电路板);测试DDR3存储器,数据传输(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高速存储器数字通道板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX高速存储器数字通道板 1pc |
9030900001 |
ULTRAFLEX高精度中低频交流信号板(电路板);产生并测试最高150兆赫兹的模拟信号,用于半导体晶元或封后集成电路的测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高密度电压测试电路板(电路板);提供最大256个通道的高密度电压,接收返回信号并测量(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX高密度电压测试电路板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX直通射频信号发生板(电路板);一个直通芯片承载板,产生低噪参考时钟,一个连接到测试头内部量测单元(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX直流源信号板(电路板);包含20个测量通道,进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
UltraFlex直流测试通道板(电路板);含80个直流输出通道,输出-2V至7V/+-1A直流电(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX直流测试通道板 2PCS |
9030900001 |
ULTRAFLEX直流测试通道板 1pc |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试头电路板(电路板);频率2.4G,用于进行高速测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试信号通道电路板(电路板);提供信号通道以及存储和捕捉功能模块(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试信号通道电路板 2PCS |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试信号通道电路板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试中高频信号电路板(电路板);产生800MHz的高频模拟信号,将被测试器件降频到50MHz(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试中高频信号电路板 1PCS |
9030900001 |
ULTRAFLEX测试中高频信号电路板 1pc |
9030900001 |
UltraFlex波形发生电路板(电路板);产生最高6千兆的任意波形进行模拟功能测试(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX数字通道电路板(电路板);提供64个高速数字通道,512兆存储容量用来传输测试机与被测元件间的指令(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX数字通道电路板 1pcs |
9030900001 |
UltraFlex数字通道板(电路板);提供数字信号,最多256个数字通道,最高数字传输频率1600Mbps(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX数字通道板(电路板);含有128个数字通道,最大数字传输速度800Mbps(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX数字通道板 2PCS |
9030900001 |
UltraFlex数字通道板 1PCS |
9030900001 |
UltraFlex数字通道板 1pc |
9030900001 |
ULTRAFLEX多通道直流测试板(电路板);可输出并测试0-7V,1A的直流信号(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX多通道直流测试板 1pcs |
9030900001 |
ULTRAFLEX基频模拟电路板(电路板);产生精确基频模拟信号,频率最高80兆赫兹(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX基准频段交流电路板(电路板);测试音频转换芯片(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
UltraFlex任意波形发生器6G(电路板);可提供频率为400M到6G的任意波形,每个选件含有8个模拟通道(适用于UltraFlex测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX交互式电流基带测试电路板(电路板);低频高精度电路板适用于音频转化器/通讯基站设备等混合信号测试(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
9030900001 |
ULTRAFLEX交互式电流基带测试电路板 |
9030900001 |
ULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘(电路板);监视系统正常工作,出现异常时关闭系统电源(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
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ULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘 1PCS |
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ULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘 1pc |
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ULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘 |
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UltraFlex HSM 8G高速内存测试数字通道板(电路板);进行量测比对,可分析出待测器件的优劣(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
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ULTRAFLEX 8G高速内存测试数字通道板(电路板);提供8G数据带宽,160个单个或差分数字信号通道(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
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ULTRAFLEX 8G高速内存测试数字通道板 1pcs |
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ULTRAFLEX 8G高速内存测试数字通道板 1pc |
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ULTRAFLEX 12插槽的数据分配板(电路板);用于控制、产生和分配各种数据通道和信号(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
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ULTRAFLEX 10G高速通道电路板(电路板);最高每秒处理10G比特的数据,80通道接口,5.35GHZ的时钟信号(适用于ULTRAFLEX测试机);泰瑞达 |
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ULTRAFLEX 10G高速通道电路板 2PCS |
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ULTRAFLEX 10G高速通道电路板 1pc |
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SSD测试架 |
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SSD测试机面板 |
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SSD测试机电路板 |
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SMD检测系统配件(送料装置) |
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SMD检测系统配件(送料装置) |
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SBT IC电路性能测试仪零件 |
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NX16-23密封圈 |
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MICROFLEX系统监控和控制板(电路板);监控和控制系统基本的硬件工作情况(适用于测试机MICROFLEX微波测试系统);泰瑞达 |
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MICROFLEX系统监控和控制板(电路板),监控和控制系统基本的硬件工作情况包括温度、电压等(适用于MICROFLEX微波测试系统) |
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MICROFLEX系统监控和控制板 1PC |
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MAVERICK I 测试电路板 4pcs |
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MAVERICK I 测试机电路板 1pc |
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MAGUNM3测试机功能板 1pc |
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Magnum测试机选用板 1pc |
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MAGNUM测试机路板 |
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Magnum测试机电路板(电路板),提供测试信号及处理(适用于Magnum测试机),NEXTEST |
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MAGNUM测试机电路板 4PCS |
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MAGNUM测试机功能电路板 1pc |
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MagnumⅡ测试机功能板(电路板),提供芯片测试资源(适用于Magnum Ⅱ测试机),NEXTEST |
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Magnum3测试机选用板 5pcs |
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Magnum3测试机选用板 1pcs |
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MAGNUM3测试机选用板 |
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MAGNUM3测试机功能板 4PCS |
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Magnum3测试机功能板 2pcs |
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Magnum3测试机功能板 1pcs |
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Magnum3测试机功能板 1pc |
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MAGNUM3测试机功能板 |
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Magnum3测试功能板 4pcs |
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Magnum2电路板测试机通道板 1pcs |
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Magnum II测试机功能板 5PCS |
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Magnum II 测试机功能板 5PCS |
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MAGNUM II 测试机功能板 3PCS |
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Magnum 3测试机选用板(电路板),提供芯片测试资源完成芯片测试(适用于Magnum 3测试机),NEXTEST |
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Magnum 3测试机选用板 1PC |
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Magnum 3测试机功能板(电路板);产生各种测试所需的测试信号和波形,用于芯片测试并处理测试结果(适用于Magnum 3测试机);NEXTEST |
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Magnum 3测试机功能板(电路板);产生各种测试所需的测试信号和波形,用于芯片测试并处理测试(适用于Magnum 3测试机);NEXTEST |
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Magnum 3测试机功能板(电路板),产生测试信号完成芯片测试(适用于Magnum 3测试机),NEXTEST |
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Magnum 3 测试机选用板 2pcs |
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Magnum 2测试机通道板(电路板),提供芯片测试相关的信号完成芯片测试及结果处理(适用于Magnum测试机),NEXTEST |
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J750系统通道板 1PCS |
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J750系统通道板 1PC |
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J750系统通道板 |
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J750混合信号测试选件(电路板);用于模拟信号的产生、采集和分析(适用于J750测试机);泰瑞达 |
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J750混合信号测试选件(电路板),用于模拟信号的产生、采集和分析(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750混合信号测试选件 3PCS |
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J750混合信号测试选件 1pc |
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J750混合信号测试数字测试部分通道板(电路板);被测器件的模拟信号做数模转换后输送到计算机上计算,用于测试半导体晶元(适用于J750测试机);泰瑞达 |
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J750混合信号测试数字测试部分通道板 1PCS |
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J750校准板(电路板),提供标准数据作为系统校准和故障诊断的工具(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750校准时钟板(电路板),产生和分发主时钟(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750时钟效用校准电路板(电路板);分配主要时钟,监视风扇和直流电源(适用于J750测试机);泰瑞达 |
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J750数字通道电路板(电路板),传输数据以及控制指令(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750数字通道电路板 1PCS |
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J750数字通道板(电路板),可向被测器件(DUT)施加激励信号并采集其输出响应信号(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750数字电源板(电路板),插在测试头中用于对电流电压源编程后传输给待测器件(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750数字模拟转换功能板(电路板);对测试原件所发出的模拟信号和数字信号进行转换(适用于J750测试机);泰瑞达 |
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J750器件电源信号板(电路板),为器件提供电源信号(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750信号通道板 3PCS |
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J750信号通道板 1PC |
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J750 800兆数字信号通道板,测试时根据器件要求给器件提供数字信号,最高速率800铛赫兹(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750 800兆数字信号通道板,测试时根据器件要求给器件提供数字信号,最高速率800兆赫兹(适用于J750测试机),泰瑞达 |
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J750 800兆数字信号通道板 2pcs |
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J750 800兆数字信号通道板 |
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ICT测试机配件 |
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HX100-70测试头 |
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FULTRAFLEX PUMA系统监控板托盘 1pc |
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FLEX高频图像测试板(电路板),两个通道实现精确的信号脉冲匹配(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX高频图像测试板 3pcs |
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FLEX高频图像测试板 1PCS |
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FLEX高频图像测试板 1PC |
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FLEX高频图像测试板 |
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FLEX辅助控制板(电路板);提供控制信号,控制器件测试板上的继电器(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX系统监控板(电路板),对各个电源和信号进行测量数据然后跟允许范围进行比对(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX系统监控板 |
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FLEX直流源信号板(电路板),进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX直流源信号板(电路板),对器件进行多路电流和时间测量的多重测试(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX电源仪器板(电路板),提供直流信号源(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX测试机主控制板(电路板);提供直流参数与时钟参数校准值,产生分配数据总线(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX测试机主控制板(电路板),接收各个功能组件反馈信号并负责与客户电脑端的通讯(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX测试机主控制板 2pcs |
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FLEX测试机主控制板 1pcs |
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FLEX测试机主控制板 1pc |
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FLEX测试机主控制板 |
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FLEX模拟测试电路板(电路板);测量待测器件中宽带转换器的测试频率,协议和性能(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX模拟测试电路板 3PCS |
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FLEX模拟测试电路板 2pcs |
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FLEX模拟测试电路板 1pcs |
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FLEX模拟测试电路板 1pc |
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FLEX模拟测试电路板 |
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FLEX数字通道板(电路板);测试数字电路,48个数字通道,64兆内存用于存储测试量(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX数字通道板 2pcs |
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FLEX数字通道板 1pcs |
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FLEX数字通道板 1pc |
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FLEX数字通道板 |
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FLEX射频信号测试模组Ⅰ 1PC |
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FLEX射频信号测试模组2(电路板);将信号进行电平调整传送给射频模组1中的八断口板使用(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX射频信号测试模组2 1pcs |
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FLEX射频信号测试模组2 1pc |
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FLEX射频信号测试模组1(电路板);将55MHZ至66MHZ的信号转换为数字模拟测试可用的信号(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX射频信号测试模组1 2pcs |
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FLEX射频信号测试模组1 1pc |
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FLEX射频信号测试模组1 |
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FLEX宽带模拟通道板(电路板);提高速度,减少处理时间(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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FLEX宽带模拟通道板 1pcs |
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FLEX EPSILON微波测试板(电路板),接收微波信号通道供测试元件使用(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX EPSILON微波测试板(电路板),接收微波信号供测试元件使用(适用于FLEX测试机),泰瑞达 |
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FLEX EPSILON微波测试板 1pcs |
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FLEX EPSILON微波测试板 1PC |
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FLEX EPSILON微波测试板 |
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FLEX EPSILON微波信号板(电路板);提供最高12赫兹的微波测试信号,输出2路信号通道给EPSILON微波测试板(适用于FLEX测试机);泰瑞达 |
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ETS高精度四通道运放测试模块(电路板) 2pcs |
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ETS高精度四通道运放测试模块(电路板),提供四个通道的AC、DC测试(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS高精度四通道运放测试模块(电路板),提供四个通道的AC、DC测试(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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ETS高精度四通道运放测试模块 3pcs |
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ETS通讯电路板(电路板),模拟资源的通信控制(适用于ETS364/600测试机),EAGLE |
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ETS通信控制电路板(电路板),控制整个测试机头与工业主机通讯(适用于ETS-88测试机),EAGLE |
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ETS运放测试电路板(电路板);用于最多六个通道并行交流和直流参数测量(用Eagle Test测试机);EAGLE |
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ETS模拟电路板(电路板);提供最大范围电压100V,电流12A内的输出(适用于ETS测试机);EAGLE |
9030900001 |
ETS模拟电路板(电路板);提供最大范围电压100V,电流12A内的输出(适用于Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
ETS模拟电路板(电路板);传输直流最大±100V的电压和2A电流信号到被测器件上并进行测量(适用于ETS测试机);EAGLE |
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ETS校正电路板(电路板),精度校准的外围辅助(适用于ETS200/300测试机),EAGLE |
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ETS校准电路板(电路板);半导体测试机外部校准的接口板,负责电压电流等信号的传输(适用于ETS测试机);EAGLE |
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ETS校准电路板(电路板),半导体测试机内部电路板的校正(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS时间测试电路板(电路板);测试时间,产生时钟基准用于其他测试头板卡(适用于ETS测试机);EAGLE |
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ETS时间测试电路板(电路板);测试时间,产生时钟基准用于其他测试头板卡(适用于ETS-200/300测试机);EAGLE |
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ETS时间测试电路板 1PCS |
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ETS时钟信号电路板(电路板);包含16个通道,给半导体测试机内部资源提供时钟频率(适用于EST测试机);EAGLE |
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ETS时钟信号电路板(电路板);包含16个通道,给半导体测试机内部资源提供时钟频率(适用于Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
ETS数字测试电路板(电路板),数字信号测试的激劢和测量(适用于ETS测试机),EAGLE |
9030900001 |
ETS数字测试电路板(电路板),数字信号测试的激劢和测量(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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ETS数字测试电路板 2PCS |
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ETS数字测试电路板 1pcs |
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ETS数字测试电路板 1pc |
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ETS数字式8通道电路板(电路板),提供信号途径(适用于Eagle Test364/88/600测试机),EAGLE |
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ETS四通道电压测试电路板(电路板),是一种四通道高精度交流/直流电压测试电路板,可测试最大±200V电压(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS四通道电压测试电路板(电路板),可测试最大±200V电压(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS四通道电压测试电路板 1pcs |
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ETS四通道时间测试电路板(电路板),时间相位测量包含四个独立测量单元(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS四通道时间测试电路板(电路板),时间相位测量包含四个独立测量单元(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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ETS四通道时间测试电路板 2PCS |
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ETS四通道时间测试电路板 1pcs |
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ETS双场效应管电路板(电路板),提供双场效应管测试(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS双场效应管电路板(电路板),提供双场效应管测试(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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ETS88型双头校准电路板(电路板),用于2个象限的测试机精度调校适用于ETS88测试机),EAGLE |
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ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板(电路板),测试系统控制和数据处理(适用于ETS88测试机),EAGLE |
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ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板 1pcs |
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ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板 1PC |
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ETS88四通道电压测试电路板(电路板);四通道精度电压测试电路板,可测试+/-200V的电压(适用于ETS88测试机);EAGLE |
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ETS88四通道电压测试电路板 3pcs |
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ETS88四通道电压测试电路板 1pcs |
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ETS88四通道电压测试电路板 1pc |
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ETS16通道应用电路板 |
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ETS-88型校正电路板(电路板),传输电压电流信号给要校准的半导体测试中的资源电路板(适用于ETS-88测试机),EAGLE |
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ETS 数字测试电路板 5PCS |
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ETS SPU-112高功率辅助电路板(电路板);连接SPU-112电路板,存储,释放相应电压,电流(适用于ETS测试机);EAGLE |
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ETS SPU-112高功率辅助电路板(电路板);连接SPU-112电路板,存储,释放相应电压,电流(用ETS测试机);EAGLE |
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ETS SPU-112高功率辅助电路板(电路板);连接SPU-112电路板,存储,释放相应电压,电流(用Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
ETS APU-12模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS APU-12模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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ETS APU-10模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于ETS测试机),EAGLE |
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ETS APU-10模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
9030900001 |
ETS APU-10模拟电路板 7pcs |
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ETS APU-10模拟电路板 3pcs |
9030900001 |
ETS APU-10模拟电路板 2pcs |
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ETS APU-10模拟电路板 1PCS |
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ETS APU-10模拟电路板 1pc |
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ETS 88四通道电压测试电路板 1PCS |
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ETS 364转接电路板(电路板),用于测试机测试信号的传输(适用于ETS-364测试机),EAGLE |
9030900001 |
ETS 16通道应用电路板(电路板),使用多站点架构为场效应管提供相当于16个站点快速直流和交流参数测试(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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EST高精度四通道运放测试模块 2pcs |
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EASTEKN牌芯片测试仪专用探针卡 |
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EAGLE TEST高精度四通道运放测试模块(电路板) 3pcs |
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EAGLE TEST高精度四通道运放测试模块(电路板) 2PCS |
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EAGLE TEST高精度四通道运放测试模块(电路板),提供四个通道的AC、DC测试(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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EAGLE TEST高精度四通道运放测试模块 1PC |
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Eagle Test运放测试电路板(电路板);用于最多六个通道并行交流和直流参数测量(用Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
EAGLE TEST运放测试电路板 1PC |
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EAGLE TEST运放测试电路板 |
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EAGLE TEST模组(电路板),使用并行资源架构为分立器件提供快速直流和交流参数测试的外围辅助(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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EAGLE TEST模组 1PCS |
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EAGLE TEST模组 1PC |
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Eagle Test模拟电路板(电路板);提供最大范围电压100V,电流12A内的输出(适用于Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
Eagle Test时钟信号电路板(电路板);包含16个通道,给半导体测试机内部资源提供时钟频率(适用于Eagle Test测试机);EAGLE |
9030900001 |
EAGLE TEST数字测试电路板(电路板),数字信号测试的激劢和测量(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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EAGLE TEST数字测试电路板 3pcs |
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EAGLE TEST数字测试电路板 1PCS |
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EAGLE TEST数字测试电路板 1pc |
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EAGLE TEST四通道电压测试电路板(电路板),是一种四通道高精度交流/直流电压测试电路板,可测试最大±200V电压(适用于EAGLE TEST测试机),EAGLE |
9030900001 |
EAGLE TEST四通道电压测试电路板 |
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Eagle Test四通道时间测试电路板(电路板),时间相位测量包含四个独立测量单元(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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EAGLE TEST四通道时间测试电路板 2pcs |
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Eagle Test四通道时间测试电路板 1PC |
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EAGLE TEST四通道时间测试电路板 |
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EAGLE TEST 高精度四通道运放测试模块 1PCS |
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EAGLE TEST 数字测试电路板 1PCS |
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Eagle Test APU-12模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
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Eagle Test APU-10模拟电路板(电路板),测试器件微弱信号的电流和电压(适用于Eagle Test测试机),EAGLE |
9030900001 |
Eagle Test APU-10模拟电路板 4pcs |
9030900001 |
EAGLE TEST APU-10模拟电路板 3PCS |
9030900001 |
EAGLE TEST APU-10模拟电路板 1pc |
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CATALYST信号输出板(电路板);测试过程中为器件提供30伏、30毫安的直流信号(适用于CATALYST测试机);泰瑞达 |
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CATALYST任意波形发生板(电路板);根据器件的要求来输出任意波形供器件使用以完成测试(适用于CATALYST测试机);泰瑞达 |
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APU-10模拟电路板 7pcs |