制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的)海关编码,HS海关编码,跨境物流专家-咔咕网-速运全球-www.ourcargo.com

制造半导体器件的检测仪和器具(第90章其他品目未列名的,包括检测光掩模及光栅用的) 9031410000

申报实例汇总

商品编码	商品名称
9031410000	高低温温度控制测试机
9031410000	颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况
9031410000	颗粒度测试仪
9031410000	静电卡盘
9031410000	集成电路测试器,可测得集成电路是否短路或断路,NIDEC-READ
9031410000	集成电路注入剂量检测设备(旧)/监控注入机台稳定性
9031410000	集成电路专用表面缺陷检测仪（光学检测）
9031410000	降尘试验箱
9031410000	阳光模拟器（太阳能组件IV测试）
9031410000	间隙量测设备
9031410000	锡膏检测仪
9031410000	锡膏检查机（旧）
9031410000	金线拉力测试仪
9031410000	量子效率测试仪(旧)
9031410000	轮廓仪;测试物体表面的轮廓;测试表面颗粒高度及颗粒之间的间距;SENSOFAR-TECH,S.L.
9031410000	超声波断层扫描仪
9031410000	超声波影像检查仪
9031410000	视觉测试仪
9031410000	表面缺陷检测设备
9031410000	薄膜厚度测试系统
9031410000	蒸汽老化机
9031410000	荧光显示屏阵列
9031410000	荧光显示屏栅网
9031410000	芯片检测机
9031410000	芯片检查机WS896-AA
9031410000	芯片检查机FT1000-D
9031410000	芯片分类机MS109-10-D4
9031410000	芯片分类机MS109-10-A1
9031410000	芯片分类机MS100Plus-3-A1
9031410000	芯片分类机MS100Plus-20-B2
9031410000	芯片分类机MS100Plus-2-A1
9031410000	芯片分类机MS100Plus-10-D2
9031410000	芯片分类机MS100Plus-1-A1
9031410000	芯片分类机MS100Plus II-A1
9031410000	芯片分类机MS100Plus II-10-A2
9031410000	芯片分类机ES201-10-A1
9031410000	芯片分类机ES101-10-A1
9031410000	自动薄膜应力测量仪(旧)/测试晶圆表面薄厚应力
9031410000	自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
9031410000	自动晶粒分类挑拣机(旧)
9031410000	自动晶圆测试机/Prober
9031410000	自动外观检查装置
9031410000	自动光学晶圆检验机;Camtek;IT行业,测量晶圆的划伤、裂痕等表面状态
9031410000	膜厚测量仪S3000SX
9031410000	膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚
9031410000	膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚
9031410000	膜厚测试仪
9031410000	缺陷测试设备
9031410000	编码器光栅
9031410000	终端机卡接口测试仪
9031410000	终点检测系统/型号:SP2100
9031410000	终点检测系统
9031410000	红外回流扫描仪,品牌SONIX,检查集成电器元器件内部是否有分层,功能:非破坏性检验
9031410000	稳定度测试仪(旧)
9031410000	移动终端智能卡接口单线协议测试仪
9031410000	科磊表面扫描仪(旧)
9031410000	离线EL测试仪
9031410000	硅片颗粒扫描仪(旧)
9031410000	硅片颗粒分析仪(旧)
9031410000	硅片表面缺陷检查仪(旧)
9031410000	硅片表面缺陷光学检查仪(旧)
9031410000	硅片膜厚测试仪(旧)
9031410000	硅片厚度测试仪
9031410000	硅片几何参数测试仪
9031410000	硅晶片检测仪
9031410000	电路板半导体器件光学检测仪
9031410000	电子产品用检查设备
9031410000	激光型椭偏仪
9031410000	激光器芯片老化测试装置用测试箱
9031410000	激光器芯片老化测试装置(八成新)
9031410000	激光器芯片窄脉冲测试仪
9031410000	测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
9031410000	测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标
9031410000	测试机(修理费)
9031410000	测试仪
9031410000	泵浦激光器老化测试装置用卡条
9031410000	水平仪
9031410000	模组电致发光检查设备
9031410000	检测芯片光功率用检测仪
9031410000	检测器框架
9031410000	检测器
9031410000	检测仪
9031410000	极间距测量装置
9031410000	晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9031410000	晶片厚度测试仪（旧）
9031410000	晶格图像检测机
9031410000	晶圆颗粒检测仪（旧）
9031410000	晶圆表面金属膜厚度检测装置
9031410000	晶圆表面金属污染检测仪
9031410000	晶圆表面膜层检测装置
9031410000	晶圆表面膜厚检测装置
9031410000	晶圆表面膜厚检测仪（旧，光学检测）
9031410000	晶圆表面膜厚和离子浓度检测装置
9031410000	晶圆表面缺陷检测装置（旧，光学检测）
9031410000	晶圆表面缺陷检测装置
9031410000	晶圆表面图形区对中检测装置
9031410000	晶圆缺陷检测装置
9031410000	晶圆缺陷检测机
9031410000	晶圆缩微检查显微镜（旧）
9031410000	晶圆缩微检查显微镜(旧,2003年产)
9031410000	晶圆离子注入监视检测装置
9031410000	晶圆校准装置
9031410000	晶圆截面检测装置
9031410000	晶圆外观目检挑除机(旧)
9031410000	晶圆外观检测挑除机(旧)
9031410000	晶圆厚度综合测试仪
9031410000	晶体阻抗计
9031410000	晶体测试机
9031410000	旧芯片翘曲度测试仪/七成新
9031410000	旧芯片微粒测试仪/七成新
9031410000	旧离子测试仪/七成新
9031410000	旧硅片膜厚测试仪/七成新
9031410000	旧硅片浓度测试仪/七成新
9031410000	旧硅片厚膜测试仪/七成新
9031410000	旧校平测试仪/七成新
9031410000	旧微粒测试仪/六成新
9031410000	旧帆宣自动光学缺陷分类机
9031410000	旧半导体器件用测试机修理费
9031410000	旧半导体器件用测试机
9031410000	旧BUMP测试仪/七成新
9031410000	斜角/凸面晶片3-D形状分析系统
9031410000	接触式表面平整度检测装置
9031410000	探针测试仪(旧)
9031410000	探针台/无品牌
9031410000	投影量测仪
9031410000	打孔检查机/用于检查线路板打孔
9031410000	快速检测仪（检测半导体器件）
9031410000	微颗粒光学检测仪
9031410000	平整度测试仪
9031410000	岛津红外半导体检测仪
9031410000	少子寿命测试仪(旧)
9031410000	套刻精度测试机
9031410000	套准量测仪（旧）
9031410000	太阳能组件测试仪BXM-2012SA
9031410000	太阳能组件测试仪
9031410000	太阳能电池颜色分类系统
9031410000	太阳能电池片表面瑕疵检测仪(旧)
9031410000	太阳能电池片测试仪
9031410000	太阳能电池效能测试仪/旧
9031410000	太阳能电池QE/IPCE测试系统
9031410000	太阳光模拟器
9031410000	多晶硅电池片分色检验仪
9031410000	多功能晶片检测系统
9031410000	外观检测系统-检测晶体管外观
9031410000	外观检查机/用于检查线路板成品
9031410000	在线光学检查仪
9031410000	噪音测试仪
9031410000	可焊性测试机
9031410000	叠层对准检测装置
9031410000	叠对量测仪（旧，光学检测）
9031410000	变焦光学系统
9031410000	厚度量测仪
9031410000	半自动裸晶测试机
9031410000	半导体颗粒测试仪（旧）
9031410000	半导体设备用函数发生器
9031410000	半导体膜厚测量仪（旧）
9031410000	半导体硅片检查仪（旧）
9031410000	半导体硅片检查仪(旧)
9031410000	半导体硅片检查仪
9031410000	半导体用缺陷检查仪/旧
9031410000	半导体用微波检测仪
9031410000	半导体测试机组件
9031410000	半导体测试机(旧)
9031410000	半导体检测设备
9031410000	半导体检测仪（旧）
9031410000	半导体检查装置
9031410000	半导体晶片光学检测仪(旧)
9031410000	半导体晶圆检测仪器(旧)
9031410000	半导体晶圆检查测量机（旧）
9031410000	半导体晶圆检查测量机(旧)
9031410000	半导体晶圆检查测量机（旧）
9031410000	半导体晶圆检查测量机（旧）
9031410000	半导体器件测试机,
9031410000	半导体器件检测仪
9031410000	半导体器件器具
9031410000	半导体器件功率循环测试机
9031410000	半导体加工测试机
9031410000	半导体加工测试仪
9031410000	制造半导体器件的检测器具
9031410000	制造半导体器件的检测仪和器具
9031410000	制造半导体器件的检测仪
9031410000	全自动高温晶圆应力检测装置
9031410000	全自动表贴LED分类系统/SLS200C
9031410000	全自动芯片扫描检查系统
9031410000	全自动检测机
9031410000	全自动晶粒挑拣机
9031410000	全自动外观检查机
9031410000	全尺寸光伏组件电致发光成像仪[旧]
9031410000	光致发光硅片测试仪
9031410000	光致发光测试仪
9031410000	光罩表面缺陷检测装置
9031410000	光罩缺陷检测机（旧，光学检测）
9031410000	光电开关用检测器具
9031410000	光栅尺
9031410000	光栅
9031410000	光掩膜版位置精度测量机
9031410000	光学表面形貌测量仪
9031410000	光学测试治具
9031410000	光学宏观缺陷扫描仪主机F30
9031410000	光学厚度量测仪
9031410000	亮度测试机(维修费)
9031410000	亮度测试机
9031410000	三维管脚检测仪(旧)
9031410000	三极管测试机
9031410000	三光检查系统
9031410000	VITROX外观检测系统VT-LP2000T
9031410000	TOPAS全处理过程分析系统/针对各元器件及发光二极管
9031410000	PSS测试系统
9031410000	PCB测试设备
9031410000	LW1000自动耦光系统
9031410000	LED测试机
9031410000	LED全自动高速测速机
9031410000	LED全自动高速测试机/旧
9031410000	LED全自动高速测试机
9031410000	LED亮度测试机(维修费)
9031410000	LD测试装置
9031410000	KEYENCE晶体管外观检测系统
9031410000	DVD光学头评价机/PULSTEC
9031410000	DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE
9031410000	DVD光学头参数测量调整仪
9031410000	CCD摄像机(光学检测模组)
9031410000	CCD影像机（光学检测模组）
9031410000	3D光学轮廓仪
9031410000	2A级太阳光模拟器及I-V测试系统

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